- 商品名称：岛津波长色散型X射线荧光光谱仪XRF-1800
- 商品编号：YQC002314
- 品牌：岛津分析仪器
- 上架时间：2022-11-04
- 商品毛重：0克
如果您发现商品信息不准确，欢迎纠错；分析元素： 8O～92U (4Be～7N 选配) ·x 射线管： 4kW 薄窗、Rh 靶、端窗型 ·分光器： 10 晶体可交换，5 种狭缝可交换，高次线轮廓功 能，超高速分析功能 (300° /min) ·小束斑功能：分析直径 500μm ·成像功能： 表示直径 250μm 可进行固体、粉末、液体等多种 样品的定性分析和无需工作曲线的 FP 法定量分析。成熟的硬件与新 开发的利用高次谱线进行的定性定量法、250μm 成像功能等，进一 步提高了可靠性，拓展了应用范围。
自主研发创造250μm微区分布成像分析功能！
XRF-1500/1700系列X射线荧光光谱仪是在世界上首先开发出微区分析/分布分析功能，并率先采用了4KW薄窗X射线管，扩大了X射线荧光分析的应用领域，作为具有开创性的仪器而得到了很高评价，业已销售200余台。
扫描型X射线荧光光谱仪 XRF-1800型从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进，使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高，增加了在行业内优先自主研发创造的250μm微区分布成像分析功能，从而达到更高的水平的完善程度。作为高灵敏度和微区分析的开拓者，岛津公司非常自信地向用户奉献出优异的XRF-1800型X射线荧光光谱仪。
· 在波长色散型装置中，自主研发创造的250μm微区分布成像分析功能可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。
· 利用高次谱线进行准确的定性/定量分析高次谱线的判定更加准确，提高了定性定量分析的准确度/可靠性。
· 测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢（H）元 素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜 的信息。
· 微区分析结构
独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光栏，利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动，可以在30mm直径内的任意位置进行分析。· 利用CCD相机可以直接观察样品（选配件）
在测定室导入样品的位置上，将样品容器按照与测定位置相同的方式放置，通过CCD摄取样品的图像，可使测定位置与图像相吻合。
· 配备高可靠性、长寿命的4kW薄窗Ｘ射线管
配备平均寿命在5年以上的高可靠性Ｘ射线管。与传统的3kWＸ射线管相比，轻元素的分析灵敏度提高2倍以上。· 集成岛津技能精华的模块功能,匹配分析功能
对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件，在这基础上可编制更佳的分析条件。可根据不同材质。
判定、品种分类、品种判定、一致性检索这4种匹配功能进行判定、检索。
- 暂无资料
