- 商品名称：X射线荧光光谱仪 ZSX Primus II（全自动扫描型）
- 商品编号：ZSX Primus II
- 品牌：日本理学
- 上架时间：2019-05-28
- 商品毛重：0克
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ZSX PrimusII是理学公司新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。
ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪，分析精度高。
可以对4Be到92U进行定性、定量分析。
元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。
可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。
可以分析材料的领域包括：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。
技术参数
X射线发生器部分
X射线管：端窗式Rh靶 4kW或3kW
高压发生器：高频变频方式
额定电压,电流：4kW,60kV-150mA
稳定度：±0.005%(对电源±10%变化时)
冷却水：水冷冷却水(内置)
分光部部分
样品交换器：可以选择12,24,36,48样品交换器
样品尺寸：φ51mmx40mm(H)
分析样品面：最大φ35mm
样品旋转：30rpm
1次X射线滤波片：4种(Al,Ti,Cu,Zr)
视野限制光阑：6种自动交换机构(φ35,30,20,10,1,0.5 mm)
发散狭缝：3种自动交换机构(标准分辨率、高分辨率、超轻元素用(选件)
接收狭缝：SC用,F-PC用
测角仪：θ-2θ独立驱动
测角范围：SC、5°-118°， F-PC、13°-148°
最大扫描速度：1400°/min(2θ)
连续扫描：0.1-240°/min
晶体交换机构：10分光晶体自动交换机构
分光晶体：(标准)LiF(200)、Ge、PET、RX25
(选件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP
真空排气系统：双真空室高速排气系统(双真空泵)
粉末样品附件(选件)
氦气置换机构(选件)：带隔板
恒温化机构：36.5度
记数.控制部分：
重元素用：SC闪烁计数管，记数线性1000kcps
轻元素用：F-PC流气比例计数管，记数线性2000kcps
芯线加热自动清洗机构
衰减器：IN-OUT自动切换(衰减率1/10)
计算机：windows PC
软件：
定性分析：自动鉴定分析功能，包括平滑,扣背景
定量分析：检量线法
JIS法
各种基体校正
无标样分析法
EZ扫描,应用模板,
样品径自动选择
谱峰分离
定精度测试
E-mail传送功能,多功能标准样品
其它选件
维护功能:
自动PHA调整(PAS)
全自动芯线清洗
自动老化
自动诊断
远程诊断
主要特点：
1、 大幅度提高了超轻元素(B,C)的分析灵敏度、准确度
使用理学的强度高的分光晶体RX-25，RX-61，RX-75，保证轻元素分析的灵敏度
采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度
使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命X光管，适合超轻元素分析
2、 采用新光学系统，实现对重元素的高灵敏度分析
3、 强大的粉末样品测试功能
上照式，可以长时间防止粉末污染分光室
双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室)，防止粉末样品的细微粉尘混入分光室
粉末附件，采用电磁阀真空密封，防止细微粉尘进入真空泵内
4、 加装CCD视频摄像机构，位置分辨率可达100um，可以进行0.5mm的微区分析，可以测量Mapping
5、 提高少量样品的分析准确度
使用r-θ样品台，解决了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题，保证样品在X射线较强、较佳条件下测量。
6、 样品室与分光室之间有专用隔膜装置
7、 48位自动进样器
8、 PAS自动调整脉冲高度系统
ACC自动清洗F-PC芯线系统
可以保证仪器在较佳状态下使用
9、 节约能源(自动减少X射线管的输出)；节约PR-10气体；节约He气(选用He室时)；节省空间
10、 自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件
11、 先进的软件分析，NEW SQX软件
12、 全中文界面
- 暂无资料
